Institute Materials for Electronics and Energy Technology (i-MEET) (i-MEET)

Growth and characterization of thin single crystalline layers for molecular electronics (GRK1896-A4) In-situ Characterization of Nanomaterials with Electrons, X-rays/Neutrons and Scanning Probes (GRK 1896) Oct. 1, 2013 - Sept. 30, 2022 Paving the way for validation of numerical simulations of ammonothermal crystal growth via in situ monitoring technology Aug. 1, 2021 - July 31, 2022 Modulanalytik und Fehlerauswertung (optiCIGS_II) Aug. 1, 2018 - July 31, 2022 Entwicklung der Laserparameter für die Inline-Strukturierung von gedruckten Solarmodulen (PV-IL) Entwicklung eines Inline-Lasersystems für die Produktion von gedruckter Photovoltaik April 1, 2020 - March 31, 2022 EnCN² - Teilprojekt EE-Technologien im urbanen Umfeld (EET) EnCN² - Teilprojekt EE-Technologien im urbanen Umfeld Jan. 1, 2017 - Dec. 31, 2021 Spitzenlastfähige Hochtemperatur-Speicher (EnCN 2 TP SP 2) Energie Campus Nürnberg Jan. 1, 2017 - Dec. 31, 2021 Integration eines Ladungsträgerlebensdauermessgeräts in eine R2R-Produktionsanlage zur Inline-Qualitätskontrolle für gedruckte Halbleiter (PIASOL) Photoinduzierte Ladungsträgerdynamik als Qualitätskriterium in der Halbleiterproduktion Nov. 1, 2019 - Oct. 31, 2021 Laboranalyse von Degradationsmechanismen unter beschleunigter Alterung und Entwicklung geeigneter feldtauglicher bildgebender Detektionsverfahren und Entwicklung und Evaluation eines Algorithmus zur Fehlerdetektion und Prognostizierung der Ausfallwahrscheinlichkeit (iPV4.0) Aug. 1, 2018 - July 31, 2021 Laboranalyse von Degradationsmechanismen unter beschleunigter Alterung und Entwicklung geeigneter feldtauglicher bildgebender Detektionsverfahren und Entwicklung und Evaluation eines Algorithmus zur Fehlerdetektion und Prognostizierung der Ausfallwahrscheinlichkeit (iPV4.0) Laboranalyse von Degradationsmechanismen unter beschleunigter Alterung und Entwicklung geeigneter feldtauglicher bildgebender Detektionsverfahren und Entwicklung und Evaluation eines Algorithmus zur Fehlerdetektion und Prognostizierung der Ausfallwahrscheinlichkeit (iPV4.0) Aug. 1, 2018 - July 31, 2021 Entwicklung eines Wachstumsprozesses für SiC-Wafer mit Durchmessern größer 10cm unter Anwendung der neuen SiC-Quellenmaterialien Dec. 20, 2018 - June 30, 2021