Materials processing by focused ion beams for TEM sample preparation and nanostructuring Materialbearbeitung mittels fokussierter ionenstrahlen zur TEM-probenpräparation und nanostrukturierung

Frey L, Lehrer C (2003)

Publication Status: Published

Publication Type: Journal article, Original article

Publication year: 2003

Journal

Praktische Metallographie Carl Hanser Verlag

Book Volume: 40

Pages Range: 184-192

Journal Issue: 4

URI: https://www.scopus.com/record/display.uri?eid=2-s2.0-0038681908∨igin=inward

Authors with CRIS profile

Lothar Frey Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

How to cite

APA:

Frey, L., & Lehrer, C. (2003). Materials processing by focused ion beams for TEM sample preparation and nanostructuring Materialbearbeitung mittels fokussierter ionenstrahlen zur TEM-probenpräparation und nanostrukturierung. Praktische Metallographie, 40(4), 184-192.

MLA:

Frey, Lothar, and C. Lehrer. "Materials processing by focused ion beams for TEM sample preparation and nanostructuring Materialbearbeitung mittels fokussierter ionenstrahlen zur TEM-probenpräparation und nanostrukturierung." Praktische Metallographie 40.4 (2003): 184-192.

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